特許

J-GLOBAL ID：200903061445112474

電子線照射装置

発明者： 矢田 洋三
出願人/特許権者： 日新ハイボルテージ株式会社
代理人 (1件)： 山本 惠二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-373190
公開番号（公開出願番号）：特開2000-193800
出願日： 1998年12月28日
公開日（公表日）： 2000年07月14日
要約：

【要約】【課題】 供給ホッパ内において粉粒体が所定レベルまで有るか否かを、機械的動作を伴わずに、しかもX線を浴びる雰囲気中でも正確に検出することができるようにする。【解決手段】 照射室容器2内における供給ホッパ16の側部であって、電子線照射領域12とは反対側の側部に、電子線照射領域12から発生しかつ供給ホッパ16を透過して来るX線14の量を計測する二つのX線計測器26aおよび26bを互いに上下に設けている。各X線計測器26a、26bで計測されるX線量Ia、Ibは、照射室容器2外に設けられた二つの比較器28a、28bにそれぞれ入力される。比較器28aは、このX線量Iaと所定の基準値Raとを比較して、前者Iaが後者Ra以下のときに検出信号Saを出力する。同様に比較器28bは、上記X線量Ibと所定の基準値Rbとを比較して、前者Ibが後者Rb以下のときに検出信号Sbを出力する。

請求項（抜粋）：

X線遮蔽機能を有する照射室容器と、この照射室容器内に設けられていて粉粒体を搬送するコンベアと、前記照射室容器内に設けられていて前記コンベアに粉粒体を供給する供給ホッパと、前記コンベア上の粉粒体に電子線を照射する電子線加速器とを備える電子線照射装置において、前記供給ホッパの側部であって、前記コンベア上の粉粒体に電子線を照射する電子線照射領域とは反対側の側部に設けられていて、当該電子線照射領域から発生しかつ供給ホッパを透過して来るX線の量を計測するX線計測器と、このX線計測器で計測するX線量と所定の基準値とを比較して、前者が後者以下のときに検出信号を出力する比較器とを備えることを特徴とする電子線照射装置。

IPC (4件)：

G21K 5/04 ,  B65G 65/42 ,  G01T 1/29 ,  G21K 5/10

FI (4件)：

G21K 5/04 C ,  B65G 65/42 B ,  G01T 1/29 B ,  G21K 5/10 C

Fターム (14件)：

2G088EE29 ,  2G088FF02 ,  2G088GG01 ,  2G088JJ29 ,  2G088KK24 ,  3F075AA08 ,  3F075BA01 ,  3F075BB01 ,  3F075CA02 ,  3F075CA08 ,  3F075CB02 ,  3F075CB05 ,  3F075CC01 ,  3F075CC08