基板検査システム

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：森本義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-140977
公開番号（公開出願番号）：特開平8-334472
出願日： 1995年06月08日
公開日（公表日）： 1996年12月17日
要約：

【要約】【目的】安定した基準面の計測を保証する基板検査システムを提供することを目的とする。【構成】電子部品が基板に実装される実装最終工程で実施される製品検査工程において、予め基板を下方より支えるひずみゲージ201をもつサポートピンの押し込み量と圧力との関係をサンプリングしデータ登録する変換データ登録手段202と、電子部品近傍の複数点のサポートピンの圧力データを高さデータに変換する圧力→高さ変換手段203と、複数の電子部品の近傍の高さデータより、検査の対象となる部品およびリード直下の基準面高さを計算する基準面高さ演算手段204と、部品およびリードの高さを計測演算する部品・リード高さ演算手段206と、計測演算された部品・リード高さと基準面の高さデータより浮き量を判定する部品・リードの浮き検査手段207を備えた基板検査システムの構成とする。

請求項（抜粋）：

電子部品が基板に実装される実装最終工程で実施される製品検査工程において、予め基板を下方より支えるサポートピンの押し込み量と圧力との関係をサンプリングしデータ登録する変換データ登録手段と、電子部品近傍の複数点のサポートピンの圧力データを高さデータに変換する圧力→高さ変換手段と、複数の電子部品の近傍の高さデータより、検査の対象となる部品およびリード直下の基準面高さを計算する基準面高さ演算手段と、部品およびリードの高さを計測演算する部品・リード高さ演算手段と、計測演算された部品・リード高さと基準面の高さデータより浮き量を判定する部品・リードの浮き検査手段を備えたことを特徴とする基板検査システム。

引用特許：

出願人引用 (4件)

特開平4-003953
特開平2-249903
特開平2-251200

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審査官引用 (4件)

特開平4-003953
特開平2-249903
特開平2-251200

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