特許
J-GLOBAL ID：200903061485644053
渦流探傷試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-333615
公開番号（公開出願番号）：特開2006-145296
出願日： 2004年11月17日
公開日（公表日）： 2006年06月08日
要約：
【課題】波形発生部であるDDSにおける周波数設定値を渦流探傷結果に影響を及ぼすことのない補正値に補正することにより、探傷波形のS/Nを改善する。【解決手段】ユーザが入力部6にて入力した印加周波数設定値から算出された位相ステップ量ΔPhaseに対して、CPU15の処理により該位相ステップ量ΔPhaseを位相検波回路10のLPF8、9でカットオフできる周波数に補正することで、第1のDDS2a及び第2のDDS2bでのジッタの発生の影響を抑制する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
交流電流を印加し試験体内部に磁界を発生させるセンスコイルと、
前記センスコイルに印加する前記交流電流の印加周波数を入力する印加周波数入力手段と、
前記印加周波数入力手段での前記印加周波数に基づき前記交流電流の印加波形を生成する印加波形生成手段と、
前記磁界による前記試験体内部の渦電流分布の変化を前記センスコイルのインピーダンス変動として抽出するインピーダンス変動抽出手段と、
前記インピーダンス変動抽出手段が抽出した前記インピーダンス変動の抽出信号の所定の周波数成分以下を抑制するローパスフィルタと、
前記ローパスフィルタを介した前記抽出信号に基づき前記試験体内部の健全性を評価する探傷画像を生成する探傷画像生成手段と、
前記印加波形生成手段での前記印加波形のデューティ比変動の変動周波数を前記ローパスフィルタの前記所定の周波数以下に制御するように前記印加周波数を補正する印加周波数補正手段と
を備えたことを特徴とする渦流探傷装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (19件)：
2G053AA12
, 2G053AB21
, 2G053BB11
, 2G053BC02
, 2G053BC07
, 2G053BC14
, 2G053CA03
, 2G053CA17
, 2G053CA18
, 2G053CB05
, 2G053CB12
, 2G053CB16
, 2G053CB17
, 2G053CB21
, 2G053CB24
, 2G053CB28
, 2G053CB29
, 2G053DA01
, 2G053DA08
