特許
J-GLOBAL ID:200903061502335540

シンチレーション検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-005844
公開番号(公開出願番号):特開平6-214035
出願日: 1993年01月18日
公開日(公表日): 1994年08月05日
要約:
【要約】【目的】 本発明は、β線強度のみを測定できるシンチレーション検出装置を提供することを目的とする。【構成】 プローブ部(10)には発光波長の異なる2つのシンチレーションファイバ(11、12)が備えられ、一方のシンチレーションファイバ(12)はβ線遮蔽物で被覆されている。プローブ部(10)で発生した光信号は、光ファイバ(20)を伝送して、分光手段(31)によって分光される。そして、分光された光信号の内の一方は第1の光検出手段(32)に入射され、入射光の光強度が検出される。また、分光された光信号の内の他方は第2の光検出手段(33)に入射され、入射光の光強度が検出される。
請求項(抜粋):
発光波長の異なる2つのシンチレーションファイバを光学的に結合して、一方のシンチレーションファイバをβ線遮蔽物で被覆したプローブ部と、前記プローブ部の一方の端面と光学的に結合して、前記プローブ部で発生した光信号を伝送する光ファイバと、前記光ファイバから出射した光信号を波長ごとに分光する分光手段と、前記分光手段で分光された光信号の内、β線遮蔽物で被覆されたシンチレーションファイバからの光信号を検出する第1の光検出手段と、前記分光手段で分光された光信号の内、β線遮蔽物で被覆されていないシンチレーションファイバからの光信号を検出する第2の光検出手段とを備えることを特徴とするシンチレーション検出装置。
IPC (2件):
G01T 1/20 ,  G01T 1/00
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特許第5008546号
  • 特開昭60-161577

前のページに戻る