特許
J-GLOBAL ID：200903061512227400
微弱光測定器、試料容器、および微弱光測定システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山田 正紀 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-256722
公開番号（公開出願番号）：特開平10-206313
出願日： 1997年09月22日
公開日（公表日）： 1998年08月07日
要約：
【要約】【課題】本発明は、散乱微弱光の測定に用いられる微弱光測定器、試料容器、および微弱光測定システムに関し、微弱光を高精度に測定する。【解決手段】微弱光測定器10に備えられた上部の遮光試料室11に、被測定試料を受け入れる試料受容部21_1とダミー試料を受け入れる試料受容部21_2とを備えた試料容器20を配置し、下方に向けて測定光100、背景光101_1,101_2を出射させ、透光窓13で仕切られた遮光受光室12に2つの受光素子31_1,31_2と差動増幅器32を備えた受光回路30を配置し、遮光受光室12を、測定に際し真空かつ極低温にする。
請求項（抜粋）：
試料を受け入れる試料受容部であって受け入れた試料が発する光を出射する出射窓を備えた試料受容部を、各試料受容部の出射窓が、同一平面上に並び、かつ同一方向を向くように2つ備えてなる試料容器が、これら2つの試料受容部の出射窓が下方を向くように着脱自在に配置される遮光試料室、および前記遮光試料室に配置された試料容器の2つの出射窓から下向きに出射した光を透過する光透過部材からなる透光窓を挟んで前記遮光試料室の下部に形成され、前記2つの出射窓それぞれから出射し前記透光窓を透過してきた各光をそれぞれ受光して各受光信号を得る、受光面を上向きにして配置される2つの受光素子と、これら2つの受光信号の差分を増幅する増幅器とを含む受光回路が配置される遮光受光室を備えたことを特徴とする微弱光測定器。
IPC (5件)：
G01N 21/03
, G01J 1/04
, G01N 21/00
, G01N 21/01
, G01N 21/62
G01N 21/03 Z
, G01J 1/04 F
, G01N 21/00 Z
, G01N 21/01 C
, G01N 21/62 Z
