特許

J-GLOBAL ID：200903061516766292

磁気ヘッド試験装置

発明者： 福井 豊 ,  小川 武男
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-008145
公開番号（公開出願番号）：特開2002-216326
出願日： 2001年01月16日
公開日（公表日）： 2002年08月02日
要約：

【要約】【課題】 磁気ヘッドの再生特性を正確に測定する試験装置を提供することを目的とする。【解決手段】 磁場印加手段と、被試験ヘッドの位置を設定する位置設定手段とを有する磁気ヘッドの再生特性を測定する磁気ヘッド試験装置であって、磁場印加手段は被試験磁気ヘッドの記録ヘッドと同一寸法の磁極を有し、位置設定手段は被試験磁気ヘッドの再生ヘッドを磁場印加手段の磁極と近接させ対向配置することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

磁場印加手段と、被試験ヘッドの位置を設定する位置設定手段とを有する磁気ヘッドの再生特性を測定する磁気ヘッド試験装置であって、磁場印加手段は被試験磁気ヘッドの記録ヘッドと同一寸法の磁極を有し、位置設定手段は被試験磁気ヘッドの再生ヘッドを磁場印加手段の磁極と近接させ対向配置することを特徴とする磁気ヘッド試験装置。

IPC (2件)：

G11B 5/455 ,  G01R 33/09

FI (2件)：

G11B 5/455 C ,  G01R 33/06 R

Fターム (4件)：

2G017AA10 ,  2G017AA13 ,  2G017AD53 ,  2G017AD55