半導体装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：京本直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-292837
公開番号（公開出願番号）：特開平6-138189
出願日： 1992年10月30日
公開日（公表日）： 1994年05月20日
要約：

【要約】【目的】半導体装置の総端子数を減らすこと。【構成】内部回路1とTEG部2に対して、電界効果トランジスタQ1〜Q8とインバータAとを含む接続選択回路6および制御信号を入力するための選択信号入力端子7を設けて、内部回路の動作用信号を入力する入力用端子4と動作結果を取り出す出力用端子5を、TEG部2の測定用信号入力端子および測定結果を取り出す出力用端子として共通に用い、選択信号がHレベルかLレベルかにより、入力用および出力用端子4、5への内部回路およびTEG部の接続を選択する。【効果】従来内部回路とTEG部それぞれに別の端子を用いたのが、共通に使用するために、内部回路またはTEG部用の一方の入力用および出力用端子を無くすことができ、総端子数を少なくできる。

請求項（抜粋）：

装置本来の機能を果たすための演算回路や情報記憶装置などを含む内部回路と、電気特性測定専用の素子群からなる1群または複数群のTEG部と、前記内部回路やTEG部に対する入力用および出力用端子と、これら入力用および出力用端子を前記内部回路およびTEG部に共用するために前記の入力用端子および出力用端子を前記内部回路およびTEG部のそれぞれ対して独立に接続する接続選択回路と、この接続選択回路に対する制御信号を入力するための選択信号入力端子とを有することを特徴とする半導体装置。

IPC (3件)：

G01R 31/28 , H01L 21/66 , H01L 27/04

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開昭60-211376
特開昭58-138064
特開昭60-154637

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