特許
J-GLOBAL ID:200903061550742432

材料試験機

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長門 侃二 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-048138
公開番号(公開出願番号):特開2003-247924
出願日: 2002年02月25日
公開日(公表日): 2003年09月05日
要約:
【要約】【課題】 電子デバイス等の微小構造物からなる供試体または電子デバイスのはんだ接合面などの供試体にマイクロオーダの変位を加えながら、その異種材接合構造等の強度を高精度に計測することのできる簡易な構成の材料試験機を提供する。【解決手段】 供試体Sの下部を固定した下部供試体固定ブロック42を基台1上に設けると共に、供試体の上部を固定した上部供試体固定ブロック41を下部供試体固定ブロック42から垂設した着脱可能な位置決めピン43を介して下部供試体固定ブロック42に固定する。そして、水平方向に移動自在に前記基台に設けたブロック支持体10に上部供試体固定ブロック41を固定させると共に、該ブロック支持体10に荷重を加えて変位させる荷重機構20をブロック支持体10の移動方向の側部に設ける。
請求項(抜粋):
供試体の上部と下部との間に横方向の変位を加えて該供試体の強度を試験する材料試験機であって、基台上にその上面に沿って水平方向に移動自在に設けられたブロック支持体と、前記ブロック支持体の外側面に支持されて前記供試体の上部を固定する上部供試体固定ブロックと、前記基台に設けられ前記上部供試体固定ブロックの下方に位置付けられて前記供試体の下部を固定する下部供試体固定ブロックと、前記基台上に固定され電圧の印加により厚みが変化して、その変化方向に荷重を生起するピエゾ素子により該ブロック支持体に荷重を加えて水平方向の移動変位を生起する荷重機構と、前記ブロック支持体と荷重機構との間に固定され、バネ長が可変設定されて弾性荷重が調整されるバネ機構により前記荷重機構に上記荷重とは逆向きの一定荷重を与える予荷重機構とを具備したことを特徴とする材料試験機。
Fターム (6件):
2G061AA11 ,  2G061AB01 ,  2G061CB03 ,  2G061DA01 ,  2G061EA01 ,  2G061EA02

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