特許

J-GLOBAL ID：200903061555330361

RAMの診断方法

発明者： 茂木 紀男 ,  町田 憲一
出願人/特許権者： 株式会社ユニシアジェックス
代理人 (1件)： 笹島 富二雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-074973
公開番号（公開出願番号）：特開2000-267944
出願日： 1999年03月19日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：

【要約】【課題】 車両制御用マイコンのRAMの診断に際し、冗長系等で保護されずにAグレード故障の要因となるRAMを短時間で確実に診断する。【解決手段】 予め、全RAM領域のうち複数の特定の情報がそれぞれ書込まれる特定ラベルのRAM(ラベル0、1、...)を診断対象RAMとして、連続するアドレスに割付けて、集約化しておく。又は、診断対象RAMがそれぞれ割付けられているアドレスを記憶させたアドレステーブルを設けて、集約化しておく。そして、車両制御中、所定時間毎に、前記集約化された診断対象RAMのみをリードライトチェック方式等で診断する。

請求項（抜粋）：

車両制御用マイクロコンピュータのRAMの診断に際し、予め、全RAM領域のうち複数の特定の情報がそれぞれ書込まれる特定ラベルのRAMを診断対象RAMとして集約化しておき、車両制御中、所定時間毎に、前記集約化された診断対象RAMを診断することを特徴とするRAMの診断方法。

IPC (2件)：

G06F 12/16 330 ,  B60R 16/02 650

FI (2件)：

G06F 12/16 330 C ,  B60R 16/02 650 J

Fターム (6件)：

5B018GA03 ,  5B018HA01 ,  5B018JA22 ,  5B018MA01 ,  5B018NA01 ,  5B018QA04