特許

J-GLOBAL ID：200903061559435630

メモリテスト装置および方法

発明者： 柴田 弘之 ,  竹崎 鉄夫
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 小森 久夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-087949
公開番号（公開出願番号）：特開2000-285696
出願日： 1999年03月30日
公開日（公表日）： 2000年10月13日
要約：

【要約】【課題】テスト装置本体内に存在する期待値メモリ容量が小さくても、大容量のマスクROM等のメモリをテストできる新規なメモリテスト装置を提供する。【解決手段】被検査メモリ12のデータを記憶する期待値メモリとして、外付け期待値メモリ5A〜5Dをメモリテスト装置本体1に外付けし、フリップフロップ2、カウンタ3、4においてこの外付け期待値メモリのアドレッシングを行い、XORゲート9において、この外付け期待値メモリの読み出しデータと被検査メモリ12の読み出しデータを比較して、その結果をメモリテスト装置本体1内にあるフェイルメモリに出力する。

請求項（抜粋）：

期待値データを格納した期待値メモリと、被検査メモリのデータを読み出して期待値データと比較する比較器と、比較結果に基づく被検査メモリの不良データを記憶するフェイルメモリと、を備えるメモリテスト装置において、テスト装置本体に対して外付けした外付け期待値メモリを設け、該外付け期待値メモリのアドレスカウンタと該メモリの読み出しデータと被検査メモリの読み出しデータを比較する比較回路と、その比較結果をメモリテスト装置本体のフェイルメモリに出力する出力回路と、を備えてなる、メモリテスト装置。

IPC (2件)：

G11C 29/00 652 ,  G01R 31/28

FI (3件)：

G11C 29/00 652 ,  G01R 31/28 B ,  G01R 31/28 H

Fターム (21件)：

2G032AA08 ,  2G032AC03 ,  2G032AE07 ,  2G032AE08 ,  2G032AE10 ,  2G032AE12 ,  2G032AG07 ,  2G032AH03 ,  2G032AH04 ,  2G032AK03 ,  2G032AL01 ,  2G032AL16 ,  5L106AA07 ,  5L106DD22 ,  5L106DD24 ,  5L106FF05 ,  5L106GG05 ,  9A001BB03 ,  9A001JJ45 ,  9A001KK37 ,  9A001LL05