特許

J-GLOBAL ID：200903061624328510

BGAはんだ付け検査装置、BGAはんだ付け検査方法、及び記憶媒体

発明者： 鈴木 直也
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
代理人 (1件)： 荒船 博司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-272750
公開番号（公開出願番号）：特開2001-094249
出願日： 1999年09月27日
公開日（公表日）： 2001年04月06日
要約：

【要約】【課題】 本発明の課題は、BGAのはんだ付けの検査を簡易に、しかも低コストで行うことができるBGAのはんだ付け検査装置及びBGAのはんだ付け検査方法を提供することである。【解決手段】 プリント基板70上に配置されるBGA60のはんだバンプのうち、最外殻に位置するはんだバンプ62を撮影し、この撮影された画像データから最外殻バンプ62のプリント基板70のランド71からの高さを計測し、この最外殻バンプ62の高さφ2とプリント基板70に配置される前のはんだバンプの高さφ1との高低を判別し、前記画像データにおいて、最外殻バンプ62とプリント基板70のランド71との接する地点の隙間4の領域を計測し、その計測値S2と所定のしきい値S1との大小を判別し、これら2種類の判別による各判別結果に基づいて、BGA60のはんだ付けの良否を判定する。

請求項（抜粋）：

プリント基板のランドに配置されるBGAのはんだバンプのうち、最外殻に位置するはんだバンプを撮影する撮影手段と、この撮影手段により撮影された画像データから前記最外殻はんだバンプのプリント基板のランドからの高さを計測し、該最外殻はんだバンプの高さとプリント基板に配置される前のはんだバンプの高さとの高低を判別する第1の判別手段と、前記画像データにおいて、前記最外殻はんだバンプとプリント基板のランドとの接する地点の隙間の領域を計測し、その計測値と所定のしきい値との大小を判別する第2の判別手段と、前記第1の判別手段と前記第2の判別手段による各判別結果に基づいて、BGAのはんだ付けの良否を判定するはんだ付け良否判定手段と、を備えることを特徴とするBGAはんだ付け検査装置。

IPC (3件)：

H05K 3/34 512 ,  H01L 21/60 321 ,  H01L 23/12

FI (3件)：

H05K 3/34 512 B ,  H01L 21/60 321 Y ,  H01L 23/12 L

Fターム (8件)：

5E319AA03 ,  5E319AB05 ,  5E319CD53 ,  5F044KK01 ,  5F044KK18 ,  5F044LL01 ,  5F044QQ03 ,  5F044RR00