特許
J-GLOBAL ID：200903061663634059
層間耐電圧試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
阿部 龍吉 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-049386
公開番号（公開出願番号）：特開平5-281287
出願日： 1992年03月06日
公開日（公表日）： 1993年10月29日
要約：
【要約】【目的】 コイルの層間における耐電圧を的確に評価することができる層間耐電圧試験装置を提供する。【構成】 試料2にインパルス電圧を印加して層間耐電圧試験を行う層間耐電圧試験装置であって、試料2にインパルス電圧を印加する電圧印加手段1、S1、S2、C、該電圧印加手段によるインパルス電圧の印加後に試料の端子間に得られる電圧を観測データとして取り出すデータ検出手段3、4、及び該データ検出手段を通して複数回の繰り返しインパルス電圧印加により得られる観測データ間の差を求めて試料の良否を判定する演算判定手段5〜7を備える。この構成により、ランダムに発生するコロナ電圧の成分を検出することができ、この差から試料の良否を判定することができる。
請求項（抜粋）：
試料にインパルス電圧を印加して層間耐電圧試験を行う層間耐電圧試験装置であって、試料にインパルス電圧を印加する電圧印加手段、該電圧印加手段によるインパルス電圧の印加後に試料の端子から検出される電圧を観測データとして取り出すデータ検出手段、及び該データ検出手段を通して複数回の繰り返しインパルス電圧印加により得られた観測データ間の差を求めて試料の良否を判定する演算判定手段を備えたことを特徴とする層間耐電圧試験装置。
引用特許：
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