特許

J-GLOBAL ID：200903061666117608

測量装置

発明者： 大友 文夫 ,  徳田 義克
出願人/特許権者： 株式会社トプコン
代理人 (1件)： 西脇 民雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-138620
公開番号（公開出願番号）：特開平8-005742
出願日： 1994年06月21日
公開日（公表日）： 1996年01月12日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 対象反射物体の検出の信頼性、対象反射物体までの距離測定の信頼性の向上を図る。【構成】 対象反射物体102に向けて照射光束を照射し、反射される反射光束に基づき対象反射物体102を検出すると共に距離を測定する測量装置において、照射光束を所定の偏光方向を有する光束として発射する光源部106と、対象反射物体102に向けて照射する照射光学系101と、対象反射物体102による反射の際に変化した偏光方向の偏光反射光束を分離する偏光光学部材122と、偏光光学部材122で分離した偏光反射光束を受光する第1受光部124、126と、対象反射物体102により反射される反射光束を受光する第2受光部120と、第1受光部124、126の出力信号に基づいて対象反射物体102の検出を行う検出部104と、第2受光部120の出力信号に基づいて対象反射物体102までの距離を測定する距離測定部131とを有する。

請求項（抜粋）：

入射光の偏向方向に対して反射光の偏光方向を変化させる対象反射物体に向けて照射光束を照射し、前記対象反射物体により反射される反射光束に基づき対象反射物体を検出すると共に対象反射物体までの距離を測定する測量装置において、前記照射光束を所定の偏光方向を有する光束として発射する光源部と、前記光源部からの照射光束を前記対象反射物体に向けて照射する照射光学系と、前記対象反射物体による反射の際に変化した偏光方向の偏光反射光束を分離する偏光光学部材と、前記偏光光学部材で分離した偏光反射光束を受光する第1受光部と、前記対象反射物体により反射される反射光束を受光する第2受光部と、前記第1受光部の出力信号に基づいて前記対象反射物体の検出を行う検出部と、前記第2受光部の出力信号に基づいて前記対象反射物体までの距離を測定する距離測定部と、を有する測量装置。

IPC (4件)：

G01S 17/36 ,  G01C 3/06 ,  G01C 15/00 ,  G01C 15/06

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭61-219884
  
• 特開平3-267784
  
• 特開平3-048790
  
• 特開平4-313013