特許
J-GLOBAL ID:200903061669788740

渦流探傷方法及び渦流探傷装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 細江 利昭
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-246229
公開番号(公開出願番号):特開平9-089843
出願日: 1995年09月25日
公開日(公表日): 1997年04月04日
要約:
【要約】【課題】 単発系疵や二次コイルの配列方向と直角方向に伸びる疵のみでなく、二次コイルの配列方向と同一方向に伸びる疵も検出でき、かつこれらの疵の区別ができる渦流探傷方法及び渦流探傷装置を提供する。【解決手段】 E型の渦流探傷センサ11〜13を、各磁極の並びと直角方向に複数配列し、各渦流探傷センサ毎の二つの二次コイル11bと11c、12bと12c、13bと13cの出力の差分信号と、異なる渦流探傷センサの二次コイル同士11cと12c、12cと13cの出力の差分信号との双方を検出し、これらの差分信号に基づいて被検査材の疵の検出を行う。
請求項(抜粋):
強磁性体であるE型コアの中央磁極を一次コイルとし両側の各磁極を二次コイルとした渦流探傷センサの一次コイルに交流電圧を印加して被検査体に渦電流を発生させ、この渦電流により各二次コイルに生じる誘起電圧を検出信号とする渦流探傷法において、前記渦流探傷センサを、各磁極の並びと直角方向に複数配列し、各渦流探傷センサ毎の二つの二次コイルの出力の差分信号と、異なる渦流探傷センサの二次コイル同士の出力の差分信号との双方を検出し、これらの差分信号に基づいて被検査材の疵の検出を行うことを特徴とする渦流探傷方法。

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