特許

J-GLOBAL ID：200903061674375551

印刷検査方法

発明者： 石田 潔 ,  鳥谷 弘幸 ,  川合 彰
出願人/特許権者： ミノルタ株式会社
代理人 (1件)： 青山 葆 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-149670
公開番号（公開出願番号）：特開2000-335062
出願日： 1999年05月28日
公開日（公表日）： 2000年12月05日
要約：

【要約】【課題】 高速・高精度で印刷物を検査する印刷検査方法を提供する。【解決手段】 印刷物(被検査物)のパターンを取り込み、検査画像として記憶する。基準画像から検査画像を減算処理して付加欠陥検出信号を検出し、また、検査画像から基準画像を減算処理して、欠如欠陥検出信号を検出する。次に、付加欠陥検出信号または欠如欠陥検出信号について、基準画像の画像境界部に設定した基準画像マスク、または、検査画像の画像境界部に設定した検査画像マスクを用いて、マスク処理をし、各種の印刷不良(異物、詰まり、欠け、欠損)を検出する。

請求項（抜粋）：

あらかじめ基準パターンを記憶しておき、被検査物のパターンを取り込み、検査画像として記憶し、前記基準画像の画像境界部にマスクを作成し、基準画像マスクとして設定し、前記基準画像から前記検査画像を減算処理し、得られた検出信号に対して、基準画像マスク処理を施し、残った信号より付加欠陥についての品質を判定する印刷検査方法。

IPC (3件)：

B41J 29/46 ,  G01N 21/88 ,  G06T 7/00

FI (3件)：

B41J 29/46 C ,  G01N 21/88 J ,  G06F 15/62 410 A

Fターム (22件)：

2C061KK22 ,  2C061KK25 ,  2C061KK26 ,  2C061KK28 ,  2G051AA34 ,  2G051AB11 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051DA02 ,  2G051DA06 ,  2G051EA08 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051ED01 ,  2G051ED07 ,  2G051FA10 ,  5B057AA12 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DC33