特許

J-GLOBAL ID：200903061704935085

流路接続構造、電磁弁マニホールド

発明者： 日比野 孝泰
出願人/特許権者： シーケーディ株式会社
代理人 (1件)： 恩田 博宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-041548
公開番号（公開出願番号）：特開平9-229217
出願日： 1996年02月28日
公開日（公表日）： 1997年09月05日
要約：

【要約】【課題】 組み付けミスによる不具合の起こりにくい流体接続構造を提供すること。【解決手段】 第1の部材3は、外壁面3aにて開口する第1の流路14,16を有し、かつその開口部分にチェック弁収容凹部34を有する。第2の部材2,4は、外壁面2a,4aにて開口する第2の流路31,32を有する。両部材2〜4を接続することにより1つの連通路が形成される。第1の流路14,16側から第2の流路31,32側への流体の流入は、チェック弁収容凹部34内に収容されたチェック弁35によって阻止される。第2の流路31,32の開口部分には、チェック弁35の流体流入阻止機能を無効化する無効化手段としてのチェック弁突出凹部36が形成されている。

請求項（抜粋）：

外壁面にて開口する第1の流路を有しかつその開口部分にチェック弁収容凹部を有する第1の部材と、外壁面にて開口する第2の流路を有する第2の部材とを接続することにより1つの連通路が形成されるとともに、前記第1の流路側から前記第2の流路側への流体の流入が、前記チェック弁収容凹部内に収容されたチェック弁によって阻止されるようになっている流路接続構造において、前記チェック弁の流体流入阻止機能を無効化する無効化手段を、前記第2の流路の開口部分に形成したことを特徴とする流路接続構造。

IPC (3件)：

F16K 15/18 ,  F16K 27/00 ,  F16K 31/06 305

FI (3件)：

F16K 15/18 A ,  F16K 27/00 Z ,  F16K 31/06 305 K