特許

J-GLOBAL ID：200903061734653173

非破壊検査方法

発明者： 土屋 憲一郎
出願人/特許権者： JFE工建株式会社
代理人 (1件)： 石川 泰男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-403395
公開番号（公開出願番号）：特開2005-164386
出願日： 2003年12月02日
公開日（公表日）： 2005年06月23日
要約：

【課題】 超音波探傷により被検査体に欠陥が有るか否かを確認すると共に、欠陥の形態をも正確に把握する。【解決手段】 被検査体に超音波を入射し、これを検出して、検出された超音波に基づいて前記被検査体に欠陥が有るか否かを判定する欠陥有無判定工程と、前記欠陥有無判定工程にて欠陥が有ると判定された場合に、前記被検査体に超音波を入射し、これを検出して、検出された前記超音波に基き前記欠陥の形態を測定する形態測定工程とを備え、前記欠陥有無判定工程では、前記被検査体の表面を伝播する疎密超音波と前記被検査体の表面に対して斜めに傾けられた方向に進行する疎密超音波とが一つの入射探触子から入射されるクリーピング探傷工程を少なくとも含む。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被検査体に超音波を入射せしめ、前記被検査体を伝播した前記超音波を検出して、検出された前記超音波に基づいて、前記被検査体に欠陥が有るか否かを判定する欠陥有無判定工程と、 前記欠陥有無判定工程にて欠陥が有ると判定された場合に、更に、前記被検査体に超音波を入射せしめ、前記被検査体を伝播した前記超音波を検出して、検出された前記超音波に基づいて、前記欠陥の形態を測定する形態測定工程とを備え、 前記欠陥有無判定工程では、前記被検査体の表面を伝播する疎密超音波と前記被検査体の表面に対して斜めに傾けられた方向に進行する疎密超音波とが一つの入射探触子から入射されるクリーピング探傷工程を少なくとも含んでいることを特徴とする非破壊検査方法。

IPC (2件)：

G01N29/22 ,  G01N29/10

FI (2件)：

G01N29/22 504 ,  G01N29/10 501

Fターム (11件)：

2G047AA07 ,  2G047AB07 ,  2G047BB01 ,  2G047BB02 ,  2G047BC02 ,  2G047BC07 ,  2G047BC10 ,  2G047EA10 ,  2G047GA13 ,  2G047GB24 ,  2G047GF18

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 超音波探傷方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-336782   出願人：石川島播磨重工業株式会社