特許
J-GLOBAL ID：200903061740548535
基板検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-007761
公開番号（公開出願番号）：特開平5-198999
出願日： 1992年01月20日
公開日（公表日）： 1993年08月06日
要約：
【要約】【目的】 部品実装基板の良否を部品の凹凸により短時間で判定する。【構成】 部品実装基板7を一対のCCDカメラ8,18により撮像するようにしているので、いわゆる2眼式撮影となる。したがって、高さデータ作成器19により一対のCCDカメラ8,18の出力信号における同一部品6の像についての位置ずれ量から部品6の凹凸にかかる測定高さデータHmを得ることができる。比較器22および判定器23により、測定高さデータHmと予め基板1上の2次元情報に対応して決められている基準高さデータHrとを比較して部品実装基板7の良否を判定する。一対のCCDカメラ8,18および信号処理装置15による測定高さデータHrの作成・比較・判定処理は、高速に行うことができるので、結果として、部品実装基板7の良否を短時間で判定することができる。
請求項（抜粋）：
部品が実装された基板の良否を判定する基板検査装置において、上記基板の実装面に対して平行に配置された一対の撮像手段と、これら撮像手段の出力信号が供給される信号処理手段とを備え、上記信号処理手段は、上記撮像手段から供給される出力信号から上記基板に実装された部品の高さを求め、この求めた高さと予め決められている基準の高さとを比較して上記部品が実装された基板の良否を判定するようにしたことを特徴とする基板検査装置。
IPC (3件)：
H05K 13/08
, G01B 11/24
, G06F 15/62 405
