特許
J-GLOBAL ID：200903061747289829
半導体レーザ装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
萩野 平 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-191855
公開番号（公開出願番号）：特開2000-029143
出願日： 1998年07月07日
公開日（公表日）： 2000年01月28日
要約：
【要約】【課題】 光検出器及び記録材料の分光感度特性がフラットでなくても、記録材料の濃度を一定に保つことができる半導体レーザ装置を提供する。【解決手段】 半導体レーザ素子50から出射された光ビームLを記録材料Aに照射すると共に、出射された光ビームLの一部を検出する光検出器59を備え、光検出器59の出力を半導体レーザ素子50にフィードバックして光量制御を行う半導体レーザ装置において、記録材料Aの分光感度特性と、光検出器59の分光感度特性の双方に対応した分光透過率特性を有する光学フィルタ58aを用いて光量調整を行う。
請求項（抜粋）：
半導体レーザ素子から出射された光ビームを記録材料に照射すると共に、該出射された光ビームの一部を検出する光検出器を備えた半導体レーザ装置において、前記光検出器の分光感度特性と前記記録材料の分光感度特性との双方に対応した分光透過率特性を有する光学フィルタを用いて光量調整を行うことを特徴とする半導体レーザ装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G03B 27/32 Z
, H01S 3/133
2H106AA44
, 2H106AA72
, 2H106AB01
, 2H106AB04
, 2H106BA91
, 5F073AB27
, 5F073BA07
, 5F073EA15
, 5F073GA12
