実装済み回路基板のガイド付きプローブ試験用取付具

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：古谷馨 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-296507
公開番号（公開出願番号）：特開平10-186005
出願日： 1997年10月29日
公開日（公表日）： 1998年07月14日
要約：

【要約】【課題】制限アクセス試験に関連した物理的及び電気的接触の問題を解決し、価格的に競合力があり、実装済み基板テストが必要とする精巧な資源割当に適合し、製造及び保守が比較的容易で安価な、実装済み基板の改良されたガイド付きプローブ試験用取付具を提供すること。【解決手段】制限アクセスの非洗浄テスト・ターゲット520の高精度、高精細ピッチの探査を達成するために、長い傾斜又は垂直テスト・プローブ、ガイド・プレート516、及び制限されたプローブ先端の移動を利用する。また、テスト・ターゲット520と多重化テスタ資源500を結合するために、バネ・プローブ508,514、プローブ取付プレート524、パーソナリティ・ピン528、及びアライメント・プレート534を利用する。更に、テスト・ターゲットと資源との電気的結合を促進するために、ワイヤレス・インターフェイス・プリント回路基板502を利用する。

請求項（抜粋）：

テストを受ける実装済み回路基板上の1つ以上の制限アクセス・テスト・ターゲットを、テスタのインターフェイス・プローブに電気的に接続するためのガイド付きプローブ試験用取付具において、a)1つ以上の長い中実のテスト・プローブと、b)第1の側と第2の側を備え、所定の位置にスルー・ホールを備え、前記1つ以上の長い中実のテスト・プローブが、それぞれ、前記スルー・ホールを通って延び、前記第1の側において、前記1つ以上の制限アクセス・テスト・ターゲットのうちの対応する1つと一列に並ぶようになる、複数の略平行なガイド・プレートと、c)前記ガイド付きプローブ試験用取付具が前記テスタに取り付けられる場合、前記ガイド・プレートの前記第2の側において、前記複数のガイド・プレートと、前記テスタの前記インターフェイス・プローブとの間に位置することになる、プローブ取付プレートと、d)前記プローブ取付プレートに取り付けられ、それぞれ、前記ガイド・プレートの前記第2の側において、前記長い中実のテスト・プローブのうちの対応する1つと一列に並ぶ、1つ以上のバネ・プローブと、e)前記プローブ取付プレートに取り付けられたワイヤラップ・ポストを備え、それぞれ、前記バネ・プローブと前記ワイヤラップ・ポストとの間のワイヤラップによって、前記バネ・プローブの少なくとも1つに電気的に接続される、1つ以上のパーソナリティ・ピンと、f)アライメント・プレートとからなり、前記ガイド付きプローブ試験用取付具が前記テスタに取り付けられる場合、前記パーソナリティ・ピンの前記ワイヤラップ・ポストは、前記ワイヤラップ・ポストのそれぞれが、前記テスタの対応するインターフェイス・プローブと一列に並ぶような仕方で、前記アライメント・プレートを通って延びることを特徴とする、ガイド付きプローブ試験用取付具。

IPC (4件)：

G01R 31/28 , G01R 1/06 , G01R 31/02 , H05K 3/00

FI (4件)：

G01R 31/28 K , G01R 1/06 A , G01R 31/02 , H05K 3/00 V

引用特許：

審査官引用 (2件)

特開昭62-115378
特開昭62-115378

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