導通検査装置及びその検査方法及びその検査プローブ

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大塚康徳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-205932
公開番号（公開出願番号）：特開平10-048281
出願日： 1996年08月05日
公開日（公表日）： 1998年02月20日
要約：

【要約】【課題】位置決めが容易で、汎用性に優れた導通検査装置及びその検査方法及びその検査プローブの提供。【解決手段】導通検査に先立って、プローブ1を基板10のパターン(1021〜102M)に接触させ、スイッチ回路6の接続を切り換え、例えば導体111に電圧を印加し、その印加した電圧が検出された他の導体を検出することにより、どの導体がどのパターンと接触しているかを関連付ける。プローブ1の導体間隔Aは、プローブ1を基板10に接触させた際、1本のパターン102(幅B)上にプローブ1の導体が少なくとも2本接触する間隔として、A<Bの条件を満足し、好ましくはプローブ1の導体間隔が、基板10のパターン間隔の略1/3とするとよい。

請求項（抜粋）：

基板上に形成されている複数の導体パターンに検査プローブを接触させ、その複数の導体パターンの導通を検査する導通検査装置であって、前記検査プローブが有する複数の検出導体を、前記複数の導体パターンに関連付ける関連付け手段と、その関連付け手段により得られた関連付け情報に基づいて前記複数の導体パターンをそれぞれ選択し、導通を検査する検査手段と、を備えたことを特徴とする導通検査装置。

引用特許：

審査官引用 (2件)

電子部品用コネクタ
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-299392 出願人：株式会社テセック
特開平2-108974

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