特許
J-GLOBAL ID:200903061808575684
ラジオ・ルミネッセンスを利用したin-situ高耐久性高感度放射線照射領域解析方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (6件):
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 平山 晃二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-390372
公開番号(公開出願番号):特開2005-156158
出願日: 2003年11月20日
公開日(公表日): 2005年06月16日
要約:
【課題】 放射線照射による照射像の三次元的な形状を、長寿命の素子で、簡便に、in-situで計測することを目的とする。【解決手段】 放射線照射により得られる照射像の三次元的な形状を解析する方法であって、放射線蛍光特性を示す遷移金属を三次元的に含有させた耐熱性ターゲットに放射線を照射して、発せられる蛍光を計測することを特徴とする方法。耐熱性ターゲットは、異なる放射線蛍光特性を示す複数種の遷移金属を含有することができる。耐熱性ターゲットは金属酸化物又はセラミックスであり、遷移金属はクロム又は亜鉛である。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
放射線照射により得られる照射像の三次元的な形状を解析する方法であって、放射線蛍光特性を示す遷移金属を三次元的に含有させた耐熱性ターゲットに放射線を照射して、発せられる蛍光を計測することを特徴とする方法。
IPC (5件):
G01N21/62
, G01B15/04
, G01T1/20
, G21K5/04
, H01J37/252
FI (6件):
G01N21/62 A
, G01B15/04
, G01T1/20 K
, G21K5/04 C
, H01J37/252 B
, H01J37/252 Z
Fターム (32件):
2F067AA53
, 2F067DD02
, 2F067DD05
, 2F067EE05
, 2F067EE18
, 2F067HH06
, 2F067HH08
, 2F067HH09
, 2F067KK01
, 2G043AA01
, 2G043BA01
, 2G043BA03
, 2G043EA01
, 2G043FA07
, 2G043JA01
, 2G043KA01
, 2G043KA02
, 2G043KA03
, 2G043NA01
, 2G088EE21
, 2G088EE30
, 2G088FF12
, 2G088FF13
, 2G088FF14
, 2G088FF15
, 2G088GG10
, 2G088GG17
, 2G088JJ01
, 2G088KK33
, 2G088KK35
, 5C033QQ07
, 5C033RR10
引用特許:
出願人引用 (3件)
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特開平3-115957
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特開昭62-287133
-
特開昭48-080089
審査官引用 (6件)
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引用文献:
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