特許
J-GLOBAL ID：200903061818645478
赤外線分析用サンプル作成方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 邦夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-026783
公開番号（公開出願番号）：特開平7-234179
出願日： 1994年02月24日
公開日（公表日）： 1995年09月05日
要約：
【要約】【目的】微弱な赤外線吸収ピークや厚い試料、透過し難い試料等の赤外線吸収ピークを鮮明に得ることが可能な赤外線分析用サンプル作成方法を提供する。【構成】微小固体材料を赤外線分析するための赤外線分析用サンプル作成方法であって、上記微小固体材料を光透過性に優れ成形容易な板状窓材に挟み、該窓材ごと上記微小固体材料を加圧する。
請求項（抜粋）：
微小固体材料を赤外線分析するための赤外線分析用サンプル作成方法であって、上記微小固体材料を光透過性に優れ成形容易な板状窓材に挟み、該窓材ごと上記微小固体材料を加圧することを特徴とする赤外線分析用サンプル作成方法。
IPC (3件)：
G01N 1/28
, G01N 21/03
, G01N 21/35
