特許

J-GLOBAL ID：200903061836630380

立体形状評価装置

発明者： 佐藤 潤一 ,  中川 雅通
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 武田 元敏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-320233
公開番号（公開出願番号）：特開平6-168301
出願日： 1992年11月30日
公開日（公表日）： 1994年06月14日
要約：

【要約】【目的】 立体形状を測定したデータから幾何学的な解析をすることにより、形状の複雑度を形状全体の総合的な評価として得ること及び立体形状の計算機内でのより少ないデータ量での記述を実現する。【構成】 計測により得られた座標列記憶手段11の記憶する立体表面の座標データ列から、頂点や傾斜あるいはエッジなど、立体表面の幾何学的な特徴を特徴抽出手段12で抽出し、それらの形状特徴から評価出力手段13において立体形状の複雑度を評価する。

請求項（抜粋）：

立体表面の座標データ列を記憶する座標列記憶手段と、前記座標列記憶手段の記憶する座標データ列から立体表面の形状特徴を抽出する特徴抽出手段と、前記特徴抽出手段の抽出する形状特徴から立体形状を評価する評価出力手段とを有することを特徴とする立体形状評価装置。

IPC (4件)：

G06F 15/60 400 ,  G06F 15/62 415 ,  G06F 15/70 350 ,  G06F 15/70 365