特許
J-GLOBAL ID：200903061874617860
質量分析計
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-007332
公開番号（公開出願番号）：特開平6-215729
出願日： 1993年01月20日
公開日（公表日）： 1994年08月05日
要約：
【要約】【目的】イオン源の組み替ええなしに極性の低い試料から高いものまでイオン化し分析すること。【構成】ガスクロクトグラフより流出した無極性試料をイオン化する電子衝撃イオン源の後より、液体クロマトグラフより流出してきた比較的高極性試料を別に設けた大気圧イオン源(大気圧化学イオン化,エレクトロスプレー)によりイオン化し、その試料イオンを導入出来るようにしたもので、1台の質量分析計で数種類のイオン源からのイオンを同時に、または質量挿引ごとにイオン源の組替えなしにガスクロマトグラフ質量分析計,液体クロマトグラフ質量分析などの測定を可能にした。
請求項（抜粋）：
異なったイオン化方式のイオン源を兼ね備えた質量分析計において、電子衝撃イオン源の、分析部と反対方向から、大気圧イオン化,エレクトロスプレーなどによりイオン化されたイオンを導入し分析部へ押し出すことを特徴とした質量分析計。
IPC (3件)：
H01J 49/26
, H01J 49/10
, G01N 27/62
