特許

J-GLOBAL ID：200903061884236244

粒径分布測定装置および方法

発明者： 高鳥 芳樹 ,  秋浜 一弘 ,  山崎 哲
出願人/特許権者： 株式会社豊田中央研究所
代理人 (1件)： 中島 淳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-333163
公開番号（公開出願番号）：特開2003-139679
出願日： 2001年10月30日
公開日（公表日）： 2003年05月14日
要約：

【要約】【課題】 粒径の大きさを問わず、簡便かつ迅速に、浮遊粒子の粒径分布を測定する。【解決手段】 k1データ演算部24は、k1マップ記憶部23から、k1演算部22で演算された減衰速度定数k1に対応する中心粒径-分布幅データを演算する。k2/k1データ演算部27は、k2/k1マップ記憶部26から、k2/k1演算部25で演算された減衰速度定数比k2/k1に対応する中心粒径-分布幅データを演算する。粒径分布測定部28は、演算された2つの中心粒径-分布幅データを重ね合わせて、その交点である中心粒径及び分布幅を求める。

請求項（抜粋）：

浮遊粒子にレーザを照射するレーザ照射手段と、前記浮遊粒子からのレーザ誘起による白熱光強度を検出する白熱光検出手段と、前記白熱光検出手段で検出された白熱光強度の時間変化に基づいて、レーザ照射後の異なる時間領域における白熱光強度の第1及び第2の減衰速度定数を演算する減衰速度定数演算手段と、予め求めておいた第1の減衰速度定数、中心粒径及び分布幅の関係を示す第1の中心粒径-分布幅マップと、予め求めておいた第2の減衰速度定数又は第2の減衰速度定数を有するパラメータ、中心粒径及び分布幅の関係を示す第2の中心粒径-分布幅マップと、を記憶するマップ記憶手段と、前記第1の中心粒径-分布幅マップから前記減衰速度定数演算手段で演算された第1の減衰速度定数に対応する中心粒径と分布幅との関係を示す第1の関係と、前記第2の中心粒径-分布幅マップから前記減衰速度定数演算手段で演算された第2の減衰速度定数又は第2の減衰速度定数を有するパラメータに対応する中心粒径と分布幅との関係を示す第2の関係と、を演算する演算手段と、前記演算手段で演算された第1及び第2の関係に基づいて、前記浮遊粒子の中心粒径及び分布幅の少なくとも1つを決定する決定手段と、を備えた粒径分布測定装置。

IPC (2件)：

G01N 15/02 ,  G01N 21/63

FI (2件)：

G01N 15/02 A ,  G01N 21/63 Z

Fターム (10件)：

2G043CA01 ,  2G043EA10 ,  2G043EA14 ,  2G043FA01 ,  2G043FA03 ,  2G043JA02 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06