特許
J-GLOBAL ID：200903061891398764
光CT装置及び光CTによる画像再構成方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-007810
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257694
出願日： 1997年01月20日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：
【要約】【課題】 被検体の断層画像を高速に再構成する光CT装置を提供する。【解決手段】 演算部4は、被検体Mを光吸収体の無い又は一様の複数の体積要素から成る集合体モデルで表し、光源10からこの集合体モデルに投射光を投射した場合に光検出部12で検出される透過光の光密度を差分法にて演算する。また、被検体Mを光吸収体の存在する複数の体積要素から成る集合体モデルで表した場合の透過光の光密度を差分法にて演算する。そして、これらの各条件下で算出された光密度の比を影響度として予め算出しておく。被検体Mについて実際に測定した透過光の強度と前記光吸収体が無いとして算出された透過光の光密度との比と前記影響度とを演算することにより、各体積要素の特徴データを求め、断層画像を再構成する。
請求項（抜粋）：
被検体の複数の部位に個別排他的に投射光を投射する光源手段と、前記投射光が被検体内を透過して成る透過光を前記被検体の他の複数の部位から個別排他的に検出する光検出手段と、前記被検体を微少な複数個の体積要素に分割された集合体モデルとみなすと共に、被検体を一様な特定吸収係数又は吸収係数ゼロを有するとみなして、前記光源手段及び前記光検出手段による測定条件と等価な条件下で前記集合体モデルを測定するとした場合の光拡散方程式に基づく差分法により前記体積要素の光密度を演算する第1の演算手段と、前記第1の演算手段で想定した前記集合体モデルの特定の体積要素に他の光吸収体が存在するとみなして、前記光源手段及び前記光検出手段による測定条件と等価な条件下で前記集合体モデルを測定するとした場合の光拡散方程式に基づく差分法により前記体積要素の光密度を演算する第2の演算手段と、前記第1の演算手段で求められた前記光密度と前記第2の演算手段で求められた光密度との比を前記体積要素の影響度として演算して、前記複数の体積要素の配列に対応する影響度の行列を求める第3の演算手段と、前記光源手段及び前記光検出手段を用いて実測された前記被検体内を透過した透過光の光強度と前記第1の演算手段で求められた光強度との相対比を演算し、前記複数の体積要素の配列に対応する相対比の行列を求める第4の演算手段と、前記第3の演算手段により求められた影響度の行列と前記第4の演算手段により求められた相対比の行列とのマトリクス演算により、前記各体積要素の特徴データを求める第5の演算手段と、を具備することを特徴とする光CT装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/27 A
, A61B 10/00 E
