ライン位置算出方法、補正値取得方法及びプログラム

発明者： , , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：一色国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-223437
公開番号（公開出願番号）：特開2008-044273
出願日： 2006年08月18日
公開日（公表日）： 2008年02月28日
要約：

【課題】テストパターンにごみの付着やドット抜けがあっても、正確に不良画素を検出できる方法の提供。【解決手段】第1方向及び第2方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データに基づいて、画像の中の第1方向に沿うラインの第2方向の位置を算出する方法であって、第1方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得し、第1方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値のばらつき度合いを算出し、ばらつき度合いに応じた閾値を設定し、閾値に基づいて範囲を設定し、画素データの示す階調値が範囲外になる不良画素を検出し、画素列を構成する複数の画素のうちの不良画素以外の画素の画素データに基づいて、その画素列の階調値を示す代表値を算出し、各画素列の代表値に基づいて、ラインの第2方向の位置を算出する。【選択図】図30

請求項（抜粋）：

第1方向及び第2方向にマトリクス状に並ぶ複数の画素から構成される画像の画像データに基づいて、前記画像の中の前記第1方向に沿うラインの前記第2方向の位置を算出する方法であって、前記第1方向に並ぶ複数の画素の画素データを取得し、前記第1方向に並ぶ複数の画素の画素データの示す階調値のばらつき度合いを算出し、前記ばらつき度合いに応じた閾値を設定し、前記閾値に基づいて範囲を設定し、前記画素データの示す階調値が前記範囲外になる不良画素を検出し、前記画素列を構成する複数の画素のうちの前記不良画素以外の画素の画素データに基づいて、その画素列の階調値を示す代表値を算出し、各画素列の前記代表値に基づいて、前記ラインの前記第2方向の位置を算出することを特徴とするライン位置算出方法。

IPC (2件)：

B41J 29/46 , B41J 2/01

FI (2件)：

B41J29/46 D , B41J3/04 101Z

Fターム (15件)：

2C056EA08 , 2C056EB27 , 2C056EB42 , 2C056EC12 , 2C056EC34 , 2C056FA04 , 2C056FA10 , 2C056HA58 , 2C056KD06 , 2C061AP01 , 2C061AQ05 , 2C061KK18 , 2C061KK25 , 2C061KK28 , 2C061KK31

引用特許：

出願人引用 (1件)

記録方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-261841 出願人：キヤノン株式会社

審査官引用 (4件)

画像処理装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-145224 出願人：シャープ株式会社
信号処理方法、画像読取装置、プログラム及び媒体
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-074324 出願人：キヤノン株式会社
印刷物検査システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-238485 出願人：株式会社東芝

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