特許

J-GLOBAL ID：200903061924515435

ICテストシステムのピンモニタ装置

発明者： 安岡 正純
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-179461
公開番号（公開出願番号）：特開平9-005393
出願日： 1995年06月22日
公開日（公表日）： 1997年01月10日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、PG50発生側の試験パターン52patに対して直接PDS60の出力端、即ちDUTの物理ピンに対応したレベルをモニタするピンモニタ機能を付加する。【構成】 PDSの入力端にPGからの試験パターン信号側か、解析部側が与えるテスト信号かを切り替えるPDS入力選択手段を設け、PDS出力端のパターンデータを読みだしするPDS出力読みだし手段を設ける。

請求項（抜粋）：

PG(Pattern Generator)が発生する論理ピン番号の試験パターン信号を、実際のDUTの物理ピン番号に割り付けるピンセレクタであるPDS(Programable Data Selector)を有するICテストシステムにおいて、PDSの入力端にPGからの試験パターン信号側か、解析部側が与えるテスト信号かを切り替えるPDS入力選択手段を設け、PDS出力端のパターンデータを読み出すPDS出力読みだし手段を設け、以上を具備していることを特徴としたICテストシステムのピンモニタ装置。