特許
J-GLOBAL ID：200903061947078776
密度測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
則近 憲佑
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-279974
公開番号（公開出願番号）：特開平7-134088
出願日： 1993年11月10日
公開日（公表日）： 1995年05月23日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、被検体の密度変化を正確に算出する。【構成】 本発明は、被検体の断面外形及び放射線吸収係数と略等しい基準体を上記被検体と同一条件で走査し、基準体の断面像を獲得し、この獲得した基準体の断面像と被検体の断面像とを位置合わせし、位置合わせ後の画像間の演算を行ない、上記被検体の内部密度を測定する。
請求項（抜粋）：
被検体の断面像の画像を処理し、前記被検体の内部密度を測定する密度測定方法において、前記被検体の断面の外形及び放射線吸収係数と略等しい基準体を同一条件で走査し、前記基準体の断面像を検出し、前記被検体の断面像と前記基準体の断面像とを位置合わせし、位置合わせ後の画像間の演算を行ない、前記被検体の内部の密度を測定することを特徴とする密度測定方法。
IPC (2件)：
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