特許
J-GLOBAL ID：200903061955673489
液晶表示装置評価システム
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-157926
公開番号（公開出願番号）：特開平8-005511
出願日： 1994年06月15日
公開日（公表日）： 1996年01月12日
要約：
【要約】【目的】 液晶表示装置の特性を自動で評価し、最適な駆動条件を見極めることのできる液晶表示装置評価システムを提供することを目的としている。【構成】 液晶表示パネル15a及びバックライト15bを有する被評価対象の液晶表示装置15が環境試験装置14の環境槽14a内に収納され、制御評価装置11によりコントローラ14bを制御して環境槽14a内の動作環境を制御する。制御評価装置11の制御下で液晶駆動装置12を動作させることより、環境槽14a内の液晶表示パネル15a及びバックライト15bを、種々の評価試験項目に対応した駆動方法や駆動条件で駆動させ、このときの動作特性データを特性計測装置13及びセンサ16、17で計測する。計測結果を制御評価装置11で集計・編集して液晶駆動装置15を評価する。
請求項（抜粋）：
被評価対象としての液晶表示パネルと、前記液晶表示パネルを複数種類の駆動方法により表示駆動する液晶駆動回路部と、前記液晶駆動回路部により表示駆動される液晶表示パネルの表示状態を複数の特性データとして計測する表示状態計測手段と、前記液晶表示パネルの複数種類の動作環境を生成する環境生成手段と、前記液晶駆動回路部の駆動方法及び前記環境生成手段の生成する動作環境を制御するとともに、前記表示状態計測手段の計測結果に基づいて前記液晶表示パネルの評価を行う制御評価装置と、を備えたことを特徴とする液晶表示装置評価システム。
IPC (2件)：
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