特許

J-GLOBAL ID：200903062008798401

X線検出器校正方法および装置並びにX線CT装置

発明者： 黒地 治夫 ,  安永 恭 ,  熊崎 昌也
出願人/特許権者： ジーイー横河メディカルシステム株式会社
代理人 (1件)： 井島 藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-003071
公開番号（公開出願番号）：特開平9-187454
出願日： 1996年01月11日
公開日（公表日）： 1997年07月22日
要約：

【要約】【課題】 多様な感度分布特性を持つX線検出器を能率良く校正するX線検出器校正方法および装置並びにX線CT装置を実現する。【解決手段】 X線照射手段XSと、X線照射手段からのX線をX線検出器に入射させるスリットを有するスリット部材SLと、スリット部材を動かしてX線検出器におけるX線照射位置を変更するスリット移動手段SCと、X線照射位置に対応したX線検出器の出力信号を測定する測定手段DASと、測定手段の測定値に基づいてX線検出器の前記スリット移動方向における感度分布を求める計算手段COMとを具備することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

スリットを通してX線をX線検出器に照射し、前記スリットを動かして前記X線検出器におけるX線照射位置を変更し、前記X線照射位置に対応した前記X線検出器の出力信号を測定し、前記出力信号の測定値に基づいて前記X線検出器の前記スリットの移動方向における感度分布を求めることを特徴とするX線検出器校正方法。

IPC (3件)：

A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 320 ,  A61B 6/06 300

FI (3件)：

A61B 6/03 350 H ,  A61B 6/03 320 K ,  A61B 6/06 300