特許

J-GLOBAL ID：200903062018681316

コネクタ検査用プローブおよびコネクタ検査器

発明者： 伊藤 公一
出願人/特許権者： 住友電装株式会社
代理人 (1件)： 大和田 和美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-024549
公開番号（公開出願番号）：特開2003-227861
出願日： 2002年01月31日
公開日（公表日）： 2003年08月15日
要約：

【要約】【課題】 端子金具およびプローブの損傷を防止するコネクタ検査用プローブおよびコネクタ検査器を提供する。【解決手段】 コネクタCに装着された端子金具Tに接触させて導通検査を行うためのプローブ10であって、端子金具Tに接触させるプローブピン11の少なくとも先端接触部を導電性ゴムから構成する。そして、この導電性ゴムを有するプローブをコネクタ検査器20の検査部23に並設固定し、コネクタ受け部22に保持されたコネクタCの端子金具Tと弾性接触させることで、コネクタCの導通検査を行う。

請求項（抜粋）：

コネクタに装着された端子金具に接触させて導通検査を行うためのプローブであって、上記端子金具に接触させるプローブピンの少なくとも先端接触部を導電性ゴムから構成したことを特徴とするコネクタ検査用プローブ。

IPC (6件)：

G01R 31/04 ,  G01R 1/06 ,  H01R 13/03 ,  H01R 13/22 ,  H01R 13/24 ,  H01R 43/00

FI (6件)：

G01R 31/04 ,  G01R 1/06 E ,  H01R 13/03 A ,  H01R 13/22 B ,  H01R 13/24 ,  H01R 43/00 Z

Fターム (12件)：

2G011AA10 ,  2G011AB06 ,  2G011AB08 ,  2G011AC21 ,  2G011AE00 ,  2G011AF06 ,  2G014AA14 ,  2G014AB38 ,  2G014AB60 ,  2G014AC10 ,  5E051GA09 ,  5E051GB09