特許
J-GLOBAL ID：200903062040516124
相互相関計
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-246320
公開番号（公開出願番号）：特開平11-084438
出願日： 1997年09月11日
公開日（公表日）： 1999年03月26日
要約：
【要約】【課題】 自己相関信号の測定機能を備えた相関計を提供することを目的とする。【解決手段】 サンプリング光に可変の遅延を与え、被測定信号光と併せた後、光非線形効果を有する媒質内に入射結焦し該媒質内で発生する非線形信号を電気信号に変換することにより被測定信号光を前記可変遅延の関数として測定する相互相関計において、前記サンプリング光を分岐する分岐鏡(114)と、該分岐鏡(114)により分岐されかつ遅延を与えない一方のサンプリング光の光軸を被測定信号光の光軸に一致させる合成鏡(118)とを付加したことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
サンプリング光に可変の遅延を与え、被測定信号光と併せた後、光非線形効果を有する媒質内に入射結焦し該媒質内で発生する非線形信号を電気信号に変換することにより被測定信号光を前記可変遅延の関数として測定する相互相関計において、前記サンプリング光を分岐する分岐鏡と、該分岐鏡により分岐されかつ遅延を与えない一方のサンプリング光の光軸を被測定信号光の光軸に一致させる合成鏡とを付加したことを特徴とする相互相関計。
IPC (2件)：
FI (2件)：
前のページに戻る
