特許
J-GLOBAL ID:200903062052273090

被検体評価装置および被検体評価方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 土井 健二 ,  林 恒徳
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-238696
公開番号(公開出願番号):特開2005-283560
出願日: 2004年08月18日
公開日(公表日): 2005年10月13日
要約:
【課題】 評価対象に蛍光標識部や放射性物質を導入しなくても、少量であっても、また、試料中に多種類の評価対象が混合された状態で存在する場合であっても、評価可能とすることもでき、さらに、小型化、複合化、集積化された被検体評価装置を実現できる、高感度に評価可能な被検体評価技術を提供する。【解決手段】 担体との間の距離が離れると受光により蛍光を発し得る蛍光標識部4を備えた被検体7と結合することができる担体を備えた被検体評価装置1において、光照射角度、光照射強度、光照射面積、蛍光検出角度、蛍光検出面積、担体の形状、担体の表面積および使用される媒体中の塩濃度、担体上の被検体の付着密度からなる群の内の少なくとも一つの因子が調整可能であるようにする。【選択図】 図9
請求項(抜粋):
担体との間の距離が離れると受光により蛍光を発し得る蛍光標識部を備えた被検体と結合することができ、外部からの作用により、当該蛍光標識部との間の距離が変化し得る担体と、 当該蛍光標識部を発光させるための光照射装置と、 当該蛍光標識部から発光される蛍光を検出するための蛍光検出装置と を備え、 光照射角度、光照射強度、光照射面積、蛍光検出角度、蛍光検出面積、担体の形状、担体の表面積および使用される媒体中の塩濃度、担体上の被検体の付着密度からなる群の内の少なくとも一つの因子が調整可能である、 被検体評価装置。
IPC (4件):
G01N33/543 ,  G01N21/78 ,  G01N33/53 ,  G01N37/00
FI (4件):
G01N33/543 575 ,  G01N21/78 C ,  G01N33/53 M ,  G01N37/00 102
Fターム (7件):
2G054CA21 ,  2G054CA22 ,  2G054CA23 ,  2G054CE08 ,  2G054EA03 ,  2G054GB02 ,  2G054GE01
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • バイオチップ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-044384   出願人:横河電機株式会社
審査官引用 (5件)
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引用文献:
審査官引用 (8件)
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