特許

J-GLOBAL ID：200903062060309621

磁気記録媒体の試験法及び磁気片の磁化時定数測定方法

発明者： 馬場 靖男 ,  岡本 巌 ,  山中 一典 ,  山岸 亙
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-266891
公開番号（公開出願番号）：特開平11-110891
出願日： 1997年09月30日
公開日（公表日）： 1999年04月23日
要約：

【要約】【課題】 所定の記録密度における磁気記録媒体の記録寿命を評価するための磁気記録媒体の試験方法及び磁気片の磁化時定数測定方法に関し、現実の磁気記録媒体に則した記録寿命を正確に評価できる磁気記録媒体の試験方法を提供することを目的とする。【解決手段】 試験用磁気記録媒体1として、均一磁化された第1の記録パターン領域1a、+ビットB1、B3と-ビットB2、B4とでビット長が異なる第2、第3の記録パターン領域1b、1cを形成し、第1〜第3の記録パターン領域1a、1b、1cを試料2a、2b、2cとして切り出して、各試料2a、2b、2cの残留磁化を測定し、測定した残留磁化の傾斜を各測定点毎に周囲の測定点との傾斜の平均として算出し、各測定点の平均の傾斜から磁化反転時定数を算出して、算出された磁化反転時定数に基づいて試験用磁気記録媒体1の寿命を評価する。

請求項（抜粋）：

磁気記録媒体を磁化して、その経時的な変化を測定することにより該磁気記録媒体の記録寿命の評価を行う磁気記録媒体の試験方法において、+ビットの面積の総和と-ビットの面積の総和とに差異を有する第1の記録パターンを前記磁気記録媒体に保証しようとする記録密度で記録し、前記第1の記録パターンの残留磁化を経時的に測定し、前記測定結果に応じて前記記録媒体の記録寿命を評価することを特徴とする磁気記録媒体の試験法。

IPC (4件)：

G11B 19/02 501 ,  G11B 19/02 ,  G01N 27/72 ,  G11B 5/00

FI (4件)：

G11B 19/02 501 S ,  G11B 19/02 501 B ,  G01N 27/72 ,  G11B 5/00 D