特許

J-GLOBAL ID：200903062077238825

レーザビーム計測装置

発明者： 近藤 高広
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 石橋 佳之夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-001028
公開番号（公開出願番号）：特開平10-197336
出願日： 1997年01月08日
公開日（公表日）： 1998年07月31日
要約：

【要約】【課題】 簡単にレーザビームの動的特性を測定することができるレーザビーム計測装置を得る。【解決手段】 電子画像形成プロセスで用いられるレーザ光学系でレーザビーム特性を測定するレーザビーム計測装置において、上記レーザ光学系に配置されている回転多面鏡3によって偏向されたレーザビームの測定位置を感光体5があるべき位置として、この測定位置にCCDカメラ6を配置し、レーザビームを上記CCDカメラ6の1画素相当分発光させ、このレーザビームの1画素相当分の発光をCCDカメラ6で読み取ることによって、レーザビームの動的特性を測定する。

請求項（抜粋）：

電子画像形成プロセスで用いられるレーザ光学系でレーザビーム特性を測定するレーザビーム計測装置において、上記レーザ光学系に配置されている回転多面鏡によって偏向されたレーザビームの測定位置を感光体があるべき位置として、この測定位置にCCDカメラを配置し、レーザビームを画像出力するときの1画素分発光させ、このレーザビームの発光をCCDカメラで読み取ることによって、レーザビームの動的特性を測定することを特徴とするレーザビーム計測装置。

IPC (4件)：

G01J 1/02 ,  B41J 2/44 ,  G01B 11/08 ,  G01J 1/42

FI (4件)：

G01J 1/02 L ,  G01B 11/08 H ,  G01J 1/42 E ,  B41J 3/00 D