特許
J-GLOBAL ID：200903062085977050
波長分散を用いた高速光断層像計測装置および計測方法
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
中尾 俊輔 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-217805
公開番号（公開出願番号）：特開2000-046729
出願日： 1998年07月31日
公開日（公表日）： 2000年02月18日
要約：
【要約】【課題】 被計測物全体の計測を迅速かつ正確に行なうことのできる波長分散を用いた高速光断層像計測装置および計測方法を提供すること。【解決手段】 発光素子2より輻射された光を信号光と参照光とに分光する半透過板5を配設し、参照光を変調して反射参照光として前記半透過板5の方向に反射させるための参照光反射鏡6を配設し、被測定物9に反射された後半透過板5により反射された反射信号光と反射参照光とを重ね合わせて干渉される干渉光を波長毎に分散するための波長分散手段11を配設するとともに、この分散された干渉光を検出する検出手段12を配設し、検出された干渉光のデータから被計測物9の光反射率を演算する反射率演算部14および被計測物9の光反射率のデータに基づいて被計測物9の断層像を得る画像処理部15を配設したこと。
請求項（抜粋）：
生体等の被測定物に光を照射してその反射光の反射率分布により前記生体の内部を計測するための光断層像計測装置において、干渉時間の短い光を発する発光素子により輻射された光を被計測物に照射される信号光と参照光とに分光する半透過板を配設し、前記参照光をその伝搬時間および位相を変調して反射参照光として前記半透過板の方向に反射させるための参照光反射鏡を配設し、前記被測定物の計測部位に照射されて反射された後前記半透過板により反射された反射信号光と前記反射参照光とを重ね合わせて干渉される干渉光を波長毎に分散するための波長分散手段を配設するとともに、この波長分散手段により分散された干渉光を検出する検出手段を配設し、前記検出手段が検出した前記干渉光のデータから前記被計測物の各被計測部位の光反射率を演算する反射率演算部およびこの反射率演算部が演算した被計測物の光反射率のデータに基づいて前記被計測物の断層像を得る画像処理部を配設したことを特徴とする波長分散を用いた高速光断層像計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/17 625
, G01J 9/00
2G059AA10
, 2G059BB12
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059FF01
, 2G059GG02
, 2G059JJ12
, 2G059JJ13
, 2G059JJ17
, 2G059KK04
