特許
J-GLOBAL ID：200903062143864430
光学的測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
津川 友士
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-004035
公開番号（公開出願番号）：特開平6-213892
出願日： 1993年01月13日
公開日（公表日）： 1994年08月05日
要約：
【要約】【目的】 光導波路表面における抗体の固定化密度を高める。【構成】 励起光が導入されるスラブ型光導波路2をポリスチレン、ポリカーボネート、化1またはポリシロキサンで構成し、スラブ型光導波路2の表面に抗体を固定化した。【化1】
請求項（抜粋）：
励起光を光導波路(2)に導入して全反射させながら伝播させ、励起光に起因するエバネッセント波成分により光導波路(2)の表面近傍の光学的状態に対応する信号光を得、光導波路(2)を全反射させた後に出射させて光検出手段(3)に導く光学的測定装置において、光導波路(2)として抗原または抗体(4)の固定化率が高いものを採用し、光導波路(2)の表面に抗原または抗体(4)を固定化してなることを特徴とする光学的測定装置。
IPC (3件)：
G01N 33/543
, G01N 21/64
, G01N 21/77
