特許

J-GLOBAL ID：200903062179730325

超音波探傷装置

発明者： 荒金 歩
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-042567
公開番号（公開出願番号）：特開平6-258302
出願日： 1993年03月03日
公開日（公表日）： 1994年09月16日
要約：

【要約】【目的】 探触子ヘッドの走査方向と直角方向における不健全部の長さが測定でき、かつ探触子間にまたがる欠陥の指示長さを求めることができる超音波探傷装置を得ることを目的とする。【構成】 エコー高さ測定回路で測定された欠陥エコー高さをH、M、Lレベルエコー高さ判定回路19a,21a,23aでH,M,Lの欠陥判定レベル(H>M>L)と比較、判定を行い、各欠陥判定レベルに対応する欠陥信号を発生する。H,M,L欠陥長さ演算回路25a,27a,29aは上記3つのエコー高さ測定回路19a,21a,23aからの欠陥信号を受けて、欠陥長さの重み付けを行う。連続性欠陥演算回路33は上記欠陥長さ演算回路の25a,27a,29aの欠陥長さ出力とHレベル欠陥信号とから探触子ヘッド4の走査方向と直角方向の欠陥指示長さ及び探触子間にまたがる欠陥指示長さを求める。

請求項（抜粋）：

試験体である鋼板の搬送方向と直角方向に、鋼板の先端部と後端部を検査するために、複数個の探触子を含み搬送方向と直角方向に鋼板上を走査する探触子ヘッドと、鋼板の外側表面より、繰り返し超音波信号を送信し、その試験体あるいは、試験体内部の欠陥から反射された超音波信号を受信する送受信手段と、有害欠陥の有無を判別すると共に、その有害欠陥の探触子ヘッドの走査方向における長さを判別する手段とを備えた超音波探傷装置において、同期信号を発生する基準クロック発生回路と、探触子ごとに、上記基準クロック発生回路から発生する同期信号に同期して送信し、また探触子によって超音波から変換された電気信号(受信エコー)を受信する送受信回路と、受信エコーの時間軸上にゲートをかけて、試験体内部の欠陥からの反射エコー(欠陥エコー)を取り出す欠陥ゲート回路と、前記欠陥ゲート回路から取り出された欠陥エコーのエコー高さを測定するエコー高さ測定回路と、前記エコー高さ測定回路で測定された欠陥エコー高さをH,M,Lの3つの欠陥判定レベル(H>M>L)と比較、判定を行い、それぞれに対応する欠陥信号を発生するためのH(High)レベルエコー高さ判定回路とM(Middle)レベルエコー高さ判定回路とL(Low)レベルエコー高さ判定回路と、上記3つのエコー高さ判定回路からの欠陥信号を受けて、欠陥長さの重み付けを行うHレベル欠陥長さ演算回路とMレベル欠陥長さ演算回路とLレベル欠陥長さ演算回路とを探触子ごとに具備した処理ブロックと、各々の処理ブロックからの欠陥長さ信号を用いて、各々の探触子にまたがる欠陥の連続性と欠陥の搬送方向における指示長さを求める連続性欠陥演算回路とを設けたことを特徴とする超音波探傷装置。