特許
J-GLOBAL ID：200903062201311676
粒子測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-318467
公開番号（公開出願番号）：特開平8-178824
出願日： 1994年12月21日
公開日（公表日）： 1996年07月12日
要約：
【要約】【目的】 試料の希釈倍率の変更に容易に対応でき、構成の簡略化を図り、試料、試薬及び洗浄液の使用液量を節約し、より迅速かつ高精度の測定を可能とする粒子測定装置を提供する。【構成】 試料液を採取する試料採取部1と、試薬を供給する試薬供給部2と、試料採取部1からの試料液と試薬供給部2からの試薬とを受け入れる混合部3と、混合された混合液中の粒子を測定するフローセル4を含む粒子測定部5とを備え、ピペット11が、試料を採取するラック12上の初期位置と、採取された試料を混合部3に供給する試料供給位置とをとりうるよう構成され、試料供給位置にあるときに混合部3内を密閉状態に保持できる。
請求項（抜粋）：
試料液を採取する少なくとも1つの試料採取手段と、試薬を供給する少なくとも1つの試薬送出手段と、試料採取手段からの試料液と試薬送出手段からの試薬とを受け入れる混合部と、混合された液中の粒子を測定する粒子測定部とを備えた粒子測定装置において、試料採取手段が、試料を採取する第1の状態と採取された試料を混合部に供給する第2の状態とをとりうるよう構成され、これが第2の状態にあるとき前記混合部内を密閉状態に保持できることを特徴とする粒子測定装置。
IPC (3件)：
G01N 15/00
, G01N 33/49
, G01N 35/10
