特許

J-GLOBAL ID：200903062239666001

微量イオン種の分析方法

発明者： 花岡 譲 ,  松本 恭知
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
代理人 (1件)： 小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-218956
公開番号（公開出願番号）：特開平5-052825
出願日： 1991年08月29日
公開日（公表日）： 1993年03月02日
要約：

【要約】【目的】一回の測定でカッティング時間を決定し信頼性のあるクロマトグラムを得ることができる微量イオン種の分析方法を提供する。【構成】被測定液を一定量濃縮カラムに注入し濃縮されたイオン種を溶離液で第1分離カラムに搬送してクロマトグラフィックに分離し、この分離状態を第1検出器で確認しながら切換弁を切換えることによって、被測定イオン種よりも先に溶出する水分をカッティングル-プに閉じ込め、被測定イオン種だけを第2分離カラムに導くようにしたもの。

請求項（抜粋）：

被測定液に含まれる微量のイオン種をクロマトグラフィックに分析する微量イオン種の分析方法において、前記被測定液を一定量濃縮カラムに注入し、該濃縮カラムで濃縮されたイオン種を溶離液で第1分離カラムに搬送してクロマトグラフィックに分離し、この分離状態を第1検出器で確認しながら切換弁を切換えることによって、被測定イオン種よりも先に溶出する水分をカッティングル-プに閉じ込め該被測定イオン種だけを第2分離カラムに導くことを特徴とする微量イオン種の分析方法。