特許
J-GLOBAL ID：200903062265853588
解析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高崎 芳紘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-213551
公開番号（公開出願番号）：特開平11-053347
出願日： 1997年08月07日
公開日（公表日）： 1999年02月26日
要約：
【要約】【課題】 解析対象内の指定した部分領域で、高精度かつ効率的な数値計算を行うことのできる解析装置を実現する。【解決手段】 対話型データ入力手段101から解析対象の入力を行い、1次有限要素計算処理手段102で全体の解析を行う。さらに指定した部分領域の境界上の物理量を上記計算結果から境界条件処理手段105で求め、このデータを用いて2次数値計算処理手段106はメッシュレス法により指定部分領域の詳細な解析を行う。
請求項（抜粋）：
解析対象の幾何形状、構成材料及び解析条件を入力するためのモデル入力手段と、該手段により入力されたモデルに節点及びメッシュを生成して解析対象全領域の解析を行うための第1の解析手段と、前記モデルの部分領域を指定するための部分領域指定手段と、該手段により指定された部分領域の境界における物理量を前記第1の解析手段の解析結果から補間により算出するための境界値算出手段と、該手段により算出された境界における物理量から前記部分領域をメッシュレス法により解析するための2次計算用データを生成し、該生成した2次計算用データを用いてメッシュレス解析を実行するための第2の解析手段と、を備えたことを特徴とする解析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F 15/353
, G06F 15/60 612 J
