X線撮像装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：杉谷勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-145453
公開番号（公開出願番号）：特開平8-317287
出願日： 1995年05月18日
公開日（公表日）： 1996年11月29日
要約：

【要約】【目的】マスク像とライブ像の画素のずれに起因するアーティファクトを軽減したサブトラクション像を、誰でも簡単に短時間で得る。【構成】指標を所定位置に定置し、X線透視撮像装置2で所定の撮像部位に指標を写し込んでマスク像とライブ像を撮像し、第1、第2のメモリ42、43に各々記憶する。これら各画像を演算器44でサブトラクションして第1のサブトラクション像を求める。画素ずれ検出部46は第1のサブトラクション像内のマスク像撮像時の指標とライブ像撮像時の指標との画素のずれを検出し、このずれを無くすように画素シフト処理部47は第2のメモリ43の画像の各画素をシフトさせ第2のメモリ43に記憶させる。第1のメモリ42の画像と第2のメモリ43の画素シフト後の画像から演算器44で第2のサブトラクション像を得る。

請求項（抜粋）：

被検体の所定の撮像部位のマスク像とライブ像とを撮像し、これら各画像をサブトラクションしてその部位のサブトラクション像を得るX線撮像装置であって、(a)前記撮像部位にX線を照射し、前記撮像部位を透過したX線透過像を撮像するX線透視撮像手段と、(b)前記X線透視像をディジタルデータに変換するデータ変換手段と、(c)前記撮像部位とともに前記X線透視撮像装置によって撮像される、所定の位置に定置されたX線不透過物質を含む指標と、(d)造影剤が投与されていない被検体の前記撮像部位と前記指標とを撮像しディジタルデータに変換したX線透過像(マスク像)と、造影剤が投与された被検体の前記撮像部位と前記指標とを撮像しディジタルデータに変換したX線透過像(ライブ像)とのサブトラクションを行いその部位の第1のサブトラクション像を求める第1の演算手段と、(e)前記第1のサブトラクション像に撮像されている、前記マスク像撮像時の指標と、前記ライブ像撮像時の指標との画素のずれを検出する画素ずれ検出手段と、(f)前記画素のずれが無くなるように前記マスク像または前記ライブ像のいずれかの画像を基準として他方の画像の各画素をシフトさせる画素シフト手段と、(g)基準とした画像と画素シフトさせた画像とのサブトラクションを行いその部位の第2のサブトラクション像を求める第2の演算手段とを備えたことを特徴とするX線撮像装置。

IPC (3件)：

H04N 5/325 , A61B 6/00 331 , A61B 6/00 390

FI (3件)：

A61B 6/00 350 S , A61B 6/00 331 B , A61B 6/00 390 C

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開昭58-163338
特開昭58-022035
特開昭59-061386

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