特許
J-GLOBAL ID：200903062332731859
質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-305935
公開番号（公開出願番号）：特開平10-132786
出願日： 1996年10月30日
公開日（公表日）： 1998年05月22日
要約：
【要約】【課題】 高分子量の標準試料を使用せずに正確な質量数の校正を行なう。【解決手段】 低分子量の標準試料の実測により得た2点の校正値を外挿して高質量数領域の外挿校正値を求め(S6)、高分子量の標準試料の実測により得た校正値と外挿校正値との差を補正量としてメモリに記憶する(S12)。以降の校正値作成の際には、低分子量の標準試料の測定のみを行ない、これにより得た2点の校正値を外挿して高質量数領域の外挿校正値を求め、この外挿校正値に補正量を加算することにより高質量数領域における校正値を算出する(S15)。
請求項（抜粋）：
標準試料の測定により得たピークを基に算出した質量数の校正値を用いて未知試料のピークの質量数を校正する質量分析装置において、a)予め低分子量の標準試料及び高分子量の標準試料の測定をそれぞれ実行し、該低分子量の標準試料の測定により得られた校正値を基に推定した高質量数領域における校正値と該高分子量の標準試料の測定により得られた校正値との差分に基づいて高質量数領域における校正値の補正量を求める補正量算出手段と、b)該補正量を記憶しておく記憶手段と、c)低分子量の標準試料の測定により低質量数領域における校正値を決定すると共に、該校正値と前記記憶手段に記憶している補正量とに基づいて高質量数領域における校正値を算出する校正値決定手段と、d)該校正値決定手段により決められた校正値を用いて未知試料のピークの質量数を校正する校正手段と、を備えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/62 D
, H01J 49/26
