特許
J-GLOBAL ID:200903062355288448
ガス分析装置およびガス分析方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
吉田 研二 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-110626
公開番号(公開出願番号):特開2001-296217
出願日: 2000年04月12日
公開日(公表日): 2001年10月26日
要約:
【要約】【課題】 被分析ガス中の特定成分を連続して精度よく分析する。【解決手段】 円筒形状に形成され表面にメタンに比してメタン以外の炭化水素の吸着時間が長い吸着剤が塗布された吸着材24とカラム22のケース23とにより分析空間26と非分析空間28とを形成し、分析空間26に排気ガス導入管30と濃度分析部50への供給管32とを接続すると共に非分析空間28にパージガス導入管34を接続する。そして、吸着剤がメタン以外の炭化水素を吸着してから離脱するまでに要する時間より短い切替時間を経過する毎に吸着材24を180度回転させる。この結果、排気ガス中のメタンを連続して分析することができる。
請求項(抜粋):
被分析ガス中の特定成分を分析するガス分析装置であって、前記被分析ガス中の特定成分以外の成分を所定時間に亘って吸着する吸着材と、該吸着材の表面の一部を用いて分析空間を形成すると共に該吸着材の表面の他部を用いて非分析空間を形成する空間形成手段とを有するカラムと、前記カラムの分析空間に前記被分析ガスを導入する被分析ガス導入手段と、前記カラムの非分析空間に前記特定成分以外の成分の前記吸着材からの離脱を可能とするパージガスを導入するパージガス導入手段と、前記吸着材の前記分析空間を形成する表面と該吸着材の前記非分析空間を形成する表面とを所定のタイミングで切り替える切替手段とを備えるガス分析装置。
IPC (3件):
G01N 1/22
, G01N 1/00 101
, G01N 27/62
FI (4件):
G01N 1/22 L
, G01N 1/22 Z
, G01N 1/00 101 R
, G01N 27/62 A
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