特許

J-GLOBAL ID：200903062357065543

レーザダイオードの劣化検出回路

発明者： 谷川 和幸
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-274731
公開番号（公開出願番号）：特開平6-125126
出願日： 1992年10月14日
公開日（公表日）： 1994年05月06日
要約：

【要約】【目的】 レーザダイオードの劣化検出回路に関し、低温領域で正確に劣化を判定でき、かつ、簡易で消費電力の少ない、レーザダイオードの劣化検出回路を提供することを目的とする。【構成】 レーザダイオードのバイアス電流のモニタ電圧と、劣化判定の基準電圧を入力して比較結果を出力する比較回路と、周囲温度に応じた出力電圧を発生する温度センサと、温度センサの出力電圧を入力して基準電圧を生成するしきい値設定回路を有するレーザダイオードの劣化検出回路において、しきい値電圧を補正する電圧を出力する補正電圧発生回路を設け、該補正電圧発生回路の出力電圧と前記しきい値設定回路の出力電圧の和を基準電圧となすように構成する。

請求項（抜粋）：

レーザダイオードのバイアス電流のモニタ電圧と、劣化判定の基準電圧を入力して比較結果を出力する比較回路と、周囲温度に応じた出力電圧を発生する温度センサと、温度センサの出力電圧を入力して基準電圧を生成するしきい値設定回路を有するレーザダイオードの劣化検出回路において、しきい値設定回路が出力する電圧を補正する補正電圧発生回路を設け、該補正電圧発生回路の出力電圧と前記しきい値設定回路の出力電圧の和を基準電圧となすことを特徴とするレーザダイオードの劣化検出回路。