特許
J-GLOBAL ID：200903062390338814
質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高矢 諭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-073688
公開番号（公開出願番号）：特開平5-283036
出願日： 1992年03月30日
公開日（公表日）： 1993年10月29日
要約：
【要約】【目的】 質量分析時に生成するイオンに、その生成源として複数の成分が存在する場合でも、その中の特定成分を正確に測定することを可能とする。【構成】 電子衝撃型イオン源を有する質量分析装置において、上記電子衝撃型イオン源に、熱電子発生手段としてのフィラメント32に近接する位置で、該フィラメントから放出される熱電子の加速方向に、該熱電子を通過させるためのスリット34Aを有する遮蔽板34を配設する。フィラメント32からの熱電子をスリット34Aに通過させることにより、エネルギ分布幅の狭い電子ビームを生成することができ、該電子ビームによりラジカル分子を選択的にイオン化することができる。
請求項（抜粋）：
電子衝撃型イオン源を有する質量分析装置において、前記電子衝撃型イオン源が、試料をイオン化するための電子を放出する熱電子発生手段と、前記熱電子発生手段の近傍の電子放出方向に配設された、電子通過用スリットを有する遮蔽板と、を備えていることを特徴とする質量分析装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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