特許
J-GLOBAL ID：200903062396709431
光学ピックアップ装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-327964
公開番号（公開出願番号）：特開平6-176426
出願日： 1992年12月08日
公開日（公表日）： 1994年06月24日
要約：
【要約】【目的】 光束のビームスプリッタへの入射角による偏光膜特性のばらつきを小さくし、C/N特性の劣化を抑制する。【構成】 レーザ光源1からの光ビームLを光磁気ディスク2上に集光させる対物レンズ3と、レーザ光源1と対物レンズ3との間の光路上に配され、かつ光磁気ディスク2からの戻り光ビームLrを光路外に導くビームスプリッタ8と、このビームスプリッタ8により光路外に導かれた戻り光ビームLrを検出する光検出器4とを有する光学ピックアップ装置において、ビームスプリッタ8を、レーザ光源1と対物レンズ3との間の光路中、レーザ光源1からの光ビームLが発散光束である位置に配し、このビームスプリッタ8における多層誘電体膜12の偏光膜特性を、この多層誘電体膜12に入射する光ビームL及び戻り光ビームLrのS偏光成分の65%を反射し、P偏光成分の35%を反射する特性とする。
請求項（抜粋）：
発散光束を出射する光源と、上記光源から出射された光束が入射され、この入射された光束を情報信号記録媒体上に集光させる対物レンズと、上記光源と上記対物レンズとの間の光路上に配され、かつ上記情報信号記録媒体によって変調された変調偏光成分を含む反射光束を上記光路外に導くビームスプリッタと、上記ビームスプリッタにより上記光路外に導かれた反射光束を検出する光検出手段とを有する光学ピックアップ装置において、上記ビームスプリッタは、上記光路上の上記光束が発散光束である位置に配され、このビームスプリッタの多層誘電体膜は、この多層誘電体膜に入射する光束の上記変調偏光成分のうち、その60〜80%を反射し、上記入射する光束の上記変調偏光成分の直交成分のうち、その20〜40%を反射する偏光膜特性を有することを特徴とする光学ピックアップ装置。
IPC (3件)：
G11B 11/10
, G02B 5/30
, G11B 7/135
