特許

J-GLOBAL ID：200903062429716153

LCDパネルにおける交差短絡欠陥の位置を決定する方法および装置

発明者： フランソワ・ジェイ・ヘンリイ
出願人/特許権者： フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド
代理人 (1件)： 山川 政樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-206233
公開番号（公開出願番号）：特開平6-026987
出願日： 1991年07月24日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 大型のLCDパネルアレイを短絡棒をつけたままで試験することである。【構成】 短絡欠陥が存在するか否かを判定することによりLCDパネル等を試験し、短絡欠陥が存在しないか(または短絡欠陥が修理されると)、開回路欠陥が存在するか、または画素に欠陥があるか否かを判定する。複数の駆動線14または複数のゲート線16を一緒に短絡する短絡棒28,30,32,34へ電流を流している間に、磁気ピックアップ装置42により駆動線14とゲート線16を走査することによりLCDパネル10の短絡欠陥を試験する。短絡欠陥が存在すると、短絡している領域を通って電流が流れる。その結果、含まれている線に沿って対応する磁界が発生される。交差短絡欠陥に対しては、ほぼ同じ強さの磁界を発生する駆動線とゲート線の交点として欠陥の場所が識別される。パネルに試験信号を加え、その結果としての表示パターンを調べることにより、パネルの開回路試験と欠陥画素を試験する。

請求項（抜粋）：

第1の向きに向けられた複数の駆動線と、第1の向きに対して全体として直交する第2の向きに向けられて行/列交差を生ずる複数のゲート線とを有する液晶表示(LCD)パネルであって、パネルの第1の縁部に沿って終端する各駆動線は第1の短絡手段により一緒に短絡され、パネルの第2の縁部に沿って終端する各ゲート線は第2の短絡手段により一緒に短絡されるLCDパネルにおける交差短絡欠陥の位置を決定する方法において、前記第1の短絡手段と前記第2の短絡手段の少なくとも1つの短絡手段へ信号を加える過程と、前記少なくとも1つの短絡手段に終端する前記複数の線の各それぞれの線に対して、いずれかの線において磁界が発生されているかどうかを検出するために、前記各線を磁界検出手段により走査する過程と、を備え、磁界を発生するいずれかの線は短絡欠陥を有すると判断するLCDパネルにおける交差短絡欠陥の位置を決定する方法。

IPC (4件)：

G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352 ,  G09G 3/36

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-096572
  
• 特開昭56-154678
  
• 特開昭63-292113
  
• 特開平3-259184